西安天光测控技术有限公司

功率器件热特性测试仪

可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性 包括 ? 功率循环 · 秒级 / Pcsec ? 功率循环 · 分钟级 / PCmin ? 被动循环 / TC ? 热阻（）/ Rth/Zth ? K曲线 ... ...

晶体管图示仪

应用领域 院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等的半导体器件应用产业链 …… 主要用途 ? 测试分析（功率器件研发设计.... ...

IGBT静态参数测试仪

ST-SPX系列产品是主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试，包括器件、模块以及DBC衬板和晶圆。 ...

IGBT动态参数测试仪

ST-DPX 系列产品是主要针对 半导体功率器件的动态参数测试 而开发设计。通过DUT适配器的转换，可测试各类封装外观的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。 ...

热阻测试仪

品类的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供的适配连接装置）； ? 系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点； ? 测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统... ...

高温反偏测试仪

功率器件环境老化试验仪 可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的 HTRB（高温反偏）、HTGB（高温栅偏）、H3TRB（高温高湿反偏） ...

晶体管正向偏置安全工作区测试系统

?用于 Si , SiC , GaN , 材料的器件级和模块级 的IGBT , MOS-FET的正向偏置安全工作区测试 ?FBSOA和对应的IV曲线 ?ICE电流0~1000A ?VCE电压0~100V。 ?VGE驱动电压0~30V ?vF热敏电压≤5V ?Pmax功率100KW. ... ...

大功率IGBT静态直流参数测试仪

ST-SPX系列产品是主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试，包括器件、模块以及DBC衬板和晶圆。 ... ...

功率器件环境老化试验系统

功率器件环境老化试验系统 可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的 HTRB（高温反偏）、HTGB（高温栅偏）、H3TRB（高温高湿反偏） ...